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# 3D-IC DFT ...[[DFT (设计用于测试)]] 挑战。传统的二维 (2D) IC 测试方法已不足以确保 3D-IC 的可靠性和功能性。 本文旨在为初学者提供关于 3D-IC DFT 的全面概述，涵盖其面临的挑战、关键技术和未来� ...